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PDFN AOI設備
產(chǎn)品介紹
  • 適用于:半導體IC外觀檢測

  • 檢測精度:0.05mm

  • 特點:

    • 可檢測產(chǎn)品6個不同面

    • 可檢測IC不良多達30種(可依客戶需求開發(fā))

    • 可兼容IC大小從8mm到40mm

    • 高速轉(zhuǎn)塔快速分料

    • 料管重力式上下料

  • 檢測準確率:> 99%

  • 檢測項目:

    • 塑料體類缺陷(毛邊、殘膠、崩裂、刮傷)

    • 引腳類缺陷(裸銅、毛刺、彎曲、變形、斷角、長短腳、偏移…)

    • 散熱片缺陷(鍍層玷污、溢膠、毛邊、刮傷)

    • 印記缺陷

  • UPH: 18000